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正畸投影测量2013An Atlas on Cephalometric Landmarkspdf下载

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书籍名称:

正畸投影测量2013An Atlas on Cephalometric Landmarkspdf下载

书籍作者:

网络来源

书籍格式:

PDF

书籍大小:

44MB

出版时间:

2015-10-09

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x线头影测量也常做为儿童颅面生长发育的一种研究手段。 半个世纪以来,x线头影测量技术一直是口腔正畸科,正颌外科,关节病等临床诊断,治疗设计及研究工作的一个重要手段。

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